詳情
10M法EMC暗室
產(chǎn)品用途:
可對(duì)通訊設(shè)備、電子、電氣設(shè)備進(jìn)行電磁兼容(EMC)測(cè)試,即電磁干擾(EMI)和電磁敏感度(EMS)測(cè)試。適用頻率30MHz-18GHz可延至40GHz。
暗室規(guī)格及性能:
1.屏蔽效能,滿(mǎn)足EN 50147-1、GB12190-90。技術(shù)參數(shù)如下:
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頻率 | 屏蔽效能 |
| 磁場(chǎng) | 14 kHz | > 60 dB |
| 磁場(chǎng) | 100 kHz | > 80 dB |
| 電場(chǎng) | 100 kHz | > 100 dB |
| 磁場(chǎng) | 1 MHz | > 100 dB |
| 電場(chǎng) | 1 MHz | > 100 dB |
| 電場(chǎng) | 100 MHz | > 100 dB |
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1 GHz | > 100 dB |
| 平面波 | 10 GHz | > 100 dB |
| 微波 | 18 GHz | > 100 dB |
| 微波 | 100 MHz | > 100 dB |
| 電場(chǎng) | 1 GHz | > 100 dB |
2.按照ANSI C63.4-2003的步驟和規(guī)定在直徑3米的圓柱體靜區(qū)內(nèi)所有位置從30MHz至1GHz進(jìn)行歸一化場(chǎng)衰減測(cè)試,按照10米法測(cè)量的歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優(yōu)于±4dB;1GHz至18GHz頻率范圍內(nèi)使用傳輸損耗(TL)測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試,僅在5GHz、10GHz和18GHz三點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優(yōu)于±4dB。同時(shí)滿(mǎn)足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05標(biāo)準(zhǔn)對(duì)場(chǎng)衰減的要求。
3.按照IEC61000-4-3步驟和規(guī)定,符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求,在30MHz至1GHz進(jìn)行場(chǎng)均勻度測(cè)試,標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)為轉(zhuǎn)臺(tái)之上0.8米-2.3米范圍內(nèi)1.5米x1.5米的垂直平面,按照3米測(cè)試距離要求16個(gè)測(cè)試點(diǎn)的75%即12點(diǎn)場(chǎng)均勻性在0-6dB之間;1GHz至18GHz的測(cè)試僅在5GHz、10 GHz和18GHz三點(diǎn)以低于3v/m進(jìn)行測(cè)試。
4. 按照CISPR22 Claas B(GB9254-1998)的規(guī)定,在30MHz-1GHz的頻率范圍內(nèi),無(wú)EUT的情況下,測(cè)得的環(huán)境電平值,至少低于規(guī)定的B級(jí)限值10dB。
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