錐形微波暗室TG611250
更新：2025-10-09 13:40:50 點(diǎn)擊：
詳情
GTEM細(xì)胞是一個(gè)測(cè)試網(wǎng)站在一個(gè)單一的有效進(jìn)行輻射抗擾度和排放測(cè)試，控制和保護(hù)環(huán)境。相比其他考點(diǎn)，GTEM測(cè)試精度高、再現(xiàn)性好的更快。原則上，GTEM室是同軸線拓展金字塔有50的阻抗。在其結(jié)束時(shí)，該線終止由終止電阻和射頻吸收劑的設(shè)計(jì)和建造相匹配的上述阻抗的組合。
Teseq了GTEM250a-sae與改進(jìn)測(cè)試范圍1GHz以上的優(yōu)秀的駐波比GTEM小室。
排放測(cè)量
SAEJ1752/3和IEC61967-2定義一個(gè)方法從測(cè)量電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的IC（集成電路）在150千赫的頻率范圍為1GHz，IC本身是安裝在一個(gè)屏蔽的測(cè)試板，夾在TEM細(xì)胞頂部的一個(gè)特殊的孔。除集成電路外，所有的接口布線和其他必需的組件都放在測(cè)試板的外側(cè)，成為電池壁的一部分.。頻譜分析儀測(cè)量接收器連接到GTEM措施從集成電路的射頻輻射。
免疫試驗(yàn)
上述測(cè)試板也可用于集成電路的抗擾度試驗(yàn)用GTEM室。IEC標(biāo)準(zhǔn)62132-2指定在150千赫的頻率范圍為1GHz集成電路的抗擾度試驗(yàn)方法。
GTEM250a-sae
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